وزارت دادگستری آمریکا، 15 شهروند چین را به تبانی و تقلب در آزمون ورودی دانشگاه‌ها و موسسات آموزش عالی در ایالات متحده متهم کرده است.

به گزارش سرویس دانشگاهی خبرگزاری دانشجویان ایران (ایسنا)، به گفته دادستان این پرونده، مظنونان با جعل گذرنامه‌های چینی، مسئولان را فریب داده و افرادی غیر از دانشجویان اصلی را وارد حوزه‌های امتحان کرده‌اند.

مقام‌های آمریکایی‌ می‌گویند: این تقلب در فاصله سال‌های 2011 تا 2015 و اغلب در مناطق غربی ایالت پنسیلوانیا انجام گرفته است.

متهمان این پرونده در صورت محکومیت با مجازاتی تا سقف 20 سال حبس و پرداخت 250 هزار دلار جریمه مواجه هستند. زنان و مردان متهم در این پرونده در محدوده سنی 19 تا 26 قرار دارند و در ایالت‌های ویرجینیا و ماساچوست زندگی‌ می‌کنند که دانشگاه‌های متعددی در آنها جای دارند.

دانشجویان خارجی برای ادامه تحصیل در دانشگاه‌های آمریکایی باید در زمینه‌های مختلف از جمله زبان انگلیسی، در آزمون تعیین سطح شرکت کنند.

وزارت دادگستری آمریکا‌ می‌گوید متقلبان در این عملیات با جعل هویت امتحان‌دهندگان اصلی، وارد حوزه‌های امتحانی شده و به جای آنها در آزمون‌های تعیین سطح (تافل، جی‌آر‌ای، اس‌ای‌تی) شرکت‌ می‌کردند.

به گفته دادستان پرونده، این گروه از دانشجویان همچنین با بکارگیری پاسپورت‌های جعلی چینی برای خود ویزای دانشجویی صادر‌ می‌کردند.

به گزارش بی‌بی‌سی، یکی از 15 متهم این پرونده بازداشت شده و برای 11 نفر دیگر قرار است حکم جلب صادر شود. همچنین اسامی سه تن از افراد این گروه که در حال حاضر در چین هستند از پرونده دادستانی حذف شده است.